Trước khi phổ biến pin tích hợp vài năm trước, một trong những vấn đề phổ biến nhất với pin điện thoại thông minh là bị phồng. Thông thường, đây là dấu hiệu của pin bị lão hóa, nhưng nó cũng có thể chỉ ra những rủi ro khác. bằng sáng chế mới Xiaomi nên khắc phục tình trạng này.
Theo thông tin mới nhất Xiaomi đã nộp đơn xin cấp bằng sáng chế vào ngày 20 tháng 2017 năm 9, nhưng đơn đăng ký chỉ được phê duyệt vào ngày 2021 tháng năm . Tiêu đề của bằng sáng chế là “Thiết bị và phương pháp gợi ý mở rộng pin” và nó được phát minh bởi Luo Wenhui. Đúng như tên gọi, đây là phương pháp phát hiện tình trạng xả pin và cảnh báo cho người dùng.
Mô tả bằng sáng chế:
“Khám phá này thuộc về một cách thúc đẩy sự giãn nở của pin. Thiết bị này bao gồm ngăn chứa pin, nắp sau của ngăn chứa pin, gốm áp điện và mạch phát hiện dòng điện. Trong thiết bị, gốm áp điện nằm ở mặt trong của nắp sau của pin ở vị trí đối diện với pin hoặc ngăn chứa pin. Mạch phát hiện dòng điện được kết nối với gốm áp điện và được sử dụng để phát hiện tín hiệu dòng điện do gốm áp điện tạo ra. Khi gốm áp điện tạo ra dòng điện, nó cho biết mức độ giãn nở của pin vượt quá giá trị ngưỡng."
Mô tả ở trên ngụ ý rằng công nghệ này có thể dự đoán tình trạng phồng pin một cách hiệu quả. Nhờ đó, người dùng có thể tránh được rủi ro do pin lithium bị giãn nở quá mức.
Đọc thêm: